上海洪富儀器儀表有限公司
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
易高236直流孔隙探測(cè)儀
基體的過(guò)早腐蝕通常是由涂層被破壞所造成。造成涂層破壞和缺陷的主要原因是針孔、空隙、雜質(zhì)、細(xì)小污點(diǎn)和氣泡。
詳情介紹：
易高236直流孔隙探測(cè)儀
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基體的過(guò)早腐蝕通常是由涂層被破壞所造成。造成涂層破壞和缺陷的主要原因是針孔、空隙、雜質(zhì)、細(xì)小污點(diǎn)和氣泡。
在Elcometer 236的便利攜帶包前端，可固定探頭手柄和附件，使Elcometer 236理想用于戶(hù)外、工地和實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)。 附件袋可以容納額外的互換電池(供選)，還可以與攜帶包相連--這樣可以延長(zhǎng)檢測(cè)時(shí)間，而不必重新充電。
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| Elcometer 236有二種樣式：1-15kV和2-30kV。 用戶(hù)可完全控制每種裝置電壓和靈敏度調(diào)節(jié)。 由于操作方法可靠，Elcometer 236將破壞涂層的風(fēng)險(xiǎn)降至*低，防止涂層從表面迸裂，這在高壓系統(tǒng)中經(jīng)常發(fā)生。 便利攜帶包： Elcometer 236 DC孔隙探測(cè)儀配備完整的工具，用戶(hù)在充電后即可隨時(shí)開(kāi)始檢測(cè)。 工具放在一個(gè)有硬襯的轉(zhuǎn)運(yùn)箱中，便于運(yùn)輸和長(zhǎng)期保存。 |
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Elcometer 236 直流孔隙探測(cè)儀
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